HAMEG HM10043
Manual de Usuario

Komponenten-Test
Nur wenn DC-Triggerkopplung vorlag, wird nicht auf ACTriggerkopplung geschaltet und die automatische Triggerung erfolgt ohne Spitzenwerterfassung. Die mit AUTO SET vorgegebenen Betriebsbedingungen überschreiben die vorherigen Einstellungen. Falls unkalibrierte Bedingungen vorlagen, wird durch AUTO SET elektrisch automatisch in die kalibrierte Einstellung geschaltet. Anschlie�end kann die Bedienung wieder manuell erfolgen. Die Ablenkkoeffizienten 1mV/cm und 2mV/cm werden, wegen der reduzierten Bandbreite in diesen Bereichen, im AUTO SET-Betrieb nicht gewählt. Achtung: Liegt ein pulsförmiges Signal an, dessen Tastverhältnis einen Wert von ca. 400:1 erreicht oder überschreitet, ist in den meisten Fällen keine automatische Signaldarstellung mehr möglich. Der Y-Ablenkkoeffizient ist dann zu klein und der Zeit-Ablenkkoeffizient zu gro�. Daraus resultiert, da� nur noch die Strahllinie dargestellt wird und der Puls nicht sichtbar ist. In solchen Fällen empfiehlt es sich, auf Normaltriggerung umzuschalten und den Triggerpunkt ca. 5mm über oder unter die Strahllinie zu stellen. Leuchtet dann die TriggeranzeigeLED, liegt ein derartiges Signal an. Um das Signal sichtbar zu machen, mu� zuerst ein kleinerer Zeit-Ablenkkoeffizient und danach ein grö�erer Y-Ablenkkoeffizient gewählt werden. Dabei kann sich allerdings die Strahlhelligkeit so stark verringern, da� der Puls nicht sichtbar wird.

Nur entladene Kondensatoren dürfen getestet werden! Das Testprinzip ist von bestechender Einfachheit. Ein im Oszilloskop befindlicher Sinusgenerator erzeugt eine Sinusspannung, deren Frequenz 50Hz (±10%) beträgt. Sie speist eine Reihenschaltung aus Prüfobjekt und eingebautem Widerstand. Die Sinusspannung wird zur Horizontalablenkung und der Spannungsabfall am Widerstand zur Vertikalablenkung benutzt. Ist das Prüfobjekt eine reelle Grö�e (z.B. ein Widerstand), sind beide Ablenkspannungen phasengleich. Auf dem Bildschirm wird ein mehr oder weniger schräger Strich dargestellt. Ist das Prüfobjekt kurzgeschlossen, steht der Strich senkrecht. Bei Unterbrechung oder ohne Prüfobjekt zeigt sich eine waagerechte Linie. Die Schrägstellung des Striches ist ein Ma� für den Widerstandswert. Damit lassen sich ohmische Widerstände zwischen 20� und 4,7k� testen. Kondensatoren und Induktivitäten (Spulen, Drosseln, Trafowicklungen) bewirken eine Phasendifferenz zwischen Strom und Spannung, also auch zwischen den Ablenkspannungen. Das ergibt ellipsenförmige Bilder. Lage und �ffnungsweite der Ellipse sind kennzeichnend für den Scheinwiderstandswert bei einer Frequenz von 50Hz. Kondensatoren werden im Bereich 0,1µF bis 1000µF angezeigt. � Eine Ellipse mit horizontaler Längsachse bedeutet eine hohe Impedanz (kleine Kapazität oder gro�e Induktivität). � Eine Ellipse mit vertikaler Längsachse bedeutet niedrige Impedanz (gro�e Kapazität oder kleine Induktivität). � Eine Ellipse in Schräglage bedeutet einen relativ gro�en Verlustwiderstand in Reihe mit dem Blindwiderstand. Bei Halbleitern erkennt man die spannungsabhängigen Kennlinienknicke beim �bergang vom leitenden in den nichtleitenden Zustand. Soweit das spannungsmä�ig möglich ist, werden Vorwärts- und Rückwärts-Charakteristik dargestellt (z.B. bei einer Z-Diode unter 10V). Es handelt sich immer um eine Zweipol-Prüfung; deshalb kann z.B. die Verstärkung eines Transistors nicht getestet werden, wohl aber die einzelnen �bergänge B-C, B-E, C-E. Da der Teststrom nur einige mA beträgt, können die einzelnen Zonen fast aller Halbleiter zerstörungsfrei geprüft werden. Eine Bestimmung von Halbleiter-Durchbruch- und Sperrspannung >10V ist nicht möglich. Das ist im allgemeinen kein Nachteil, da im Fehlerfall in der Schaltung sowieso grobe Abweichungen auftreten, die eindeutige Hinweise auf das fehlerhafte Bauelement geben. Recht genaue Ergebnisse erhält man beim Vergleich mit sicher funktionsfähigen Bauelementen des gleichen Typs und Wertes. Dies gilt insbesondere für Halbleiter. Man kann damit z.B. den kathodenseitigen Anschlu� einer Diode oder Z-Diode mit unkenntlicher Bedruckung, die Unterscheidung eines p-n-p-Transistors vom komplementären n-p-n-Typ oder die richtige Gehäuseanschlu�folge BC-E eines unbekannten Transistortyps schnell ermitteln.

Komponenten-Test
Gerätebezogene Informationen, welche die Bedienung und die Me�anschlüsse betreffen, sind dem Absatz CT (41) unter �Bedienelemente und Readout� zu entnehmen. Das Oszilloskop verfügt über einen eingebauten Komponenten-Tester. Der zweipolige Anschlu� des zu prüfenden Bauelementes erfolgt über die dafür vorgesehenen Buchsen. Im Komponententest-Betrieb sind sowohl die Y-Vorverstärker wie auch der Zeitbasisgenerator abgeschaltet. Jedoch dürfen Signalspannungen an den auf der Frontplatte befindlichen BNC-Buchsen weiter anliegen, wenn einzelne nicht in Schaltungen befindliche Bauteile (Einzelbauteile) getestet werden. Nur in diesem Fall müssen die Zuleitungen zu den BNCBuchsen nicht gelöst werden (siehe �Tests direkt in der Schaltung�). Au�er den INTENS.-, FOCUS- und X-POS.Einstellern haben die übrigen Oszilloskop-Einstellungen keinen Einflu� auf diesen Testbetrieb. Für die Verbindung des Testobjekts mit dem Oszilloskop sind zwei einfache Me�schnüre mit 4mm-Bananensteckern erforderlich. Wie im Abschnitt SICHERHEIT beschrieben, sind alle Me�anschlüsse (bei einwandfreiem Betrieb) mit dem Netzschutzleiter verbunden, also auch die Buchsen für den Komponententester. Für den Test von Einzelbauteilen (nicht in Geräten bzw. Schaltungen befindlich) ist dies ohne Belang, da diese Bauteile nicht mit dem Netzschutzleiter verbunden sein können. Sollen Bauteile getestet werden, die sich in Testschaltungen bzw. Geräten befinden, müssen die Schaltungen bzw. Geräte unter allen Umständen vorher stromlos gemacht werden. Soweit Netzbetrieb vorliegt, ist auch der Netzstecker des Testobjektes zu ziehen. Damit wird sichergestellt, da� eine Verbindung zwischen Oszilloskop und Testobjekt über den Schutzleiter vermieden wird. Sie hätte falsche Testergebnisse zur Folge.

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�nderungen vorbehalten